SECS / GEM是用于設備到主機數據通信的半導體設備接口協(xié)議。在自動化工廠中，接口可以啟動和停止設備處理，收集測量數據，更改變量并為產品選擇配方。 SECS（SEMI設備通信標準）/ GEM（通用設備模型）標準以確定的方式完成所有這些工作。  由SEMI（半導體設備和材料）組織開發(fā)，該標準定義了一套通用的設備行為和通信能力。

高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗箱? 概述

高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗箱適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復沖擊能力。檢測產品于熱脹冷縮所產生的化學變化或物理傷害，確保產品的品質。

特點

• 三箱設備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產品置于測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊, 測試產品為靜態(tài)式。
• 采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。
• 沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。

Ø  高溫沖擊或低溫沖擊時，大時間可達999H，大循環(huán)周期可達9999次。

• 系統(tǒng)可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
• 冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。

Ø  可以試驗沖擊常溫執(zhí)行滿足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗

符合標準

• GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗
• GB/T 2424.13-2002 溫度沖擊試驗
• GJB 360B-2009 溫度沖擊試驗
• GB/T 2423.2-2008 高溫試驗方法
• GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-2-1-2007 低溫試驗方法
• GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
• GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件規(guī) 
• 所有符合GEM的生產設備都具有*的界面和一定的行為。 GEM設備可以使用TCP / IP（使用HSMS標準，SEMI E37）或基于RS-232的協(xié)議（使用SECS-I標準，SEMI E4）與支持GEM的主機進行通信。通常這兩種協(xié)議都受支持。每臺設備都可以使用由GEM的通用SECS-II消息進行監(jiān)控和控制。  還有許多額外的SEMI標準和工廠規(guī)范參考了GEM標準的特點。